加州、摩根山 —— 2017 年 5 月 23 日 —— 安立公司為其 VectorStar? 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA) 推出了通用固件提取 (UFX) 工具，即為信號完整性和在片工程師，提供了更多的在片和固件校準(zhǔn)選擇，甚至是在全套校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)不可用的情況下亦能使用。UFX 的開發(fā)著眼于解決，在滿足 4G 系統(tǒng)、新興 5G 系統(tǒng)、回傳和數(shù)據(jù)中心的高頻高數(shù)據(jù)速率要求時(shí)遇到的設(shè)計(jì)難題，提供了獨(dú)特的分析工具，使工程師能夠更準(zhǔn)確、更高效地對設(shè)計(jì)進(jìn)行評估。

配置有 UFX 的 VectorStar VNA 可為信號完整性和片上工程師提供多種先進(jìn)功能。VNA 解決方案通過改進(jìn)測試固件去嵌入技術(shù)，提高了模型精度，從而提高了首次通過率，縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。VAN 還使工程師能夠開發(fā)具有競爭優(yōu)勢的高速數(shù)據(jù)吞吐量產(chǎn)品。

完全修正后的測試固件校準(zhǔn)技術(shù)要求固件傳輸路徑兩端擁有一套完整的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。在不具備一套完整校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境中，傳統(tǒng)方法是，假設(shè)固件的兩個(gè)路徑完全對稱并完全匹配。由于這不符合常規(guī)，因此使用先前的技術(shù)會導(dǎo)致大量的去嵌入錯(cuò)誤。UFX 提供了先進(jìn)的去嵌入工具，允許工程師在校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)和特征數(shù)據(jù)可用時(shí)，逐步添加它們，以提高固件提取精度。

為了幫助分析測試固件中的個(gè)別缺陷，UFX 還包含了順序剝離功能。信號完整性工程師可以根據(jù)相位函數(shù)匹配，為固件的一部分（例如，在轉(zhuǎn)換中發(fā)現(xiàn)的部分）生成一個(gè) .sNp 文件。該功能提供有關(guān)固件的更多詳細(xì)信息，從而可以更輕松地改進(jìn)測試固件設(shè)計(jì)。

UFX 擴(kuò)展了 VectorStar 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的功能，以用于在片器件特性描述和高速數(shù)據(jù)傳輸測量。安立公司先進(jìn)的線性 VNA——VectorStar 利用獲得專利的 NLTL 技術(shù)，在單個(gè)儀器中提供最廣泛的覆蓋范圍，即 70 kHz 至 145 GHz。VNA 為研發(fā)工程師提供了其所要求的性能水平，使其能夠準(zhǔn)確可靠地為高頻器件建模，驗(yàn)證最先進(jìn)的設(shè)計(jì)，并在確保精度的同時(shí)，最大限度地提高吞吐量。